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日本产综研发布 将EL检测用于太阳能电池的劣化原因分析

2010-08-12 09:14
木中君
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  日前,日本产业技术综合研究所(产综研)在成果报告会上发布了将EL测定用于有机太阳能电池劣化原因分析的成果。具体内容是,令有机太阳能电池EL发光,用TEM观察不发光区域(暗点)的断面。EL检测采用了日本ITES可用激光标记观察区域的检测装置。

  当为在ITO上层叠PEDOT:PSS层、P3HT:PCBM层及Al电极的有机太阳能电池时,观察其暗点的断面会发现存在PEDOT:PSS块。受其影响,断面会存在P3HT:PCBM层局部变薄,或者PEDOT:PSS层有到达Al电极之处。PEDOT:PSS的这些异常会促使Al电极氧化,成为有机太阳电池劣化的一个原因。

  此次的有机太阳能电池在形成时,在层积PEDOT:PSS层及P3HT:PCBM层等之后进行了热处理。此时存在PEDOT:PSS部分发生膨胀的可能性。产综研称利用EL检测可有效分析太阳能电池的劣化原因,今后将继续进行分析。
 

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